ET2011展示会　JTAGバウンダリスキャン・テストシステム2

JTAGバウンダリスキャン・テストのテスト事例をET2011展示会のアンドールブースで発表しました。テスト基板は、ローム様ご提供のGOJYOボード(Intel社 ATOM搭載)です。http://www.andor.jp/jtag/jtagbreak/